可靠性百科 | 加速壽命試驗
[ 來源：蓉矽半導(dǎo)體 時間：2023-02-24 閱讀：5556次 ]
何為“加速壽命試驗”
加速壽命試驗（Accelerated Life Testing，ALT）是通過加強應(yīng)力，并結(jié)合物理失效規(guī)律相關(guān)的統(tǒng)計模型，在短時間內(nèi)預(yù)測出產(chǎn)品在正常應(yīng)力下的壽命特征的一種試驗方法。
常用的加速壽命試驗類型
加速壽命試驗的意義：
1）縮短壽命試驗周期；
2）結(jié)果可用于電子產(chǎn)品可靠性評價、制定可靠性篩選依據(jù)；
3）結(jié)合失效分析，可以找到可靠性失效短板；
常用的加速應(yīng)力
加速試驗中的應(yīng)力為廣義概念，包含產(chǎn)品壽命期內(nèi)對產(chǎn)品壽命造成影響的所有條件，常用的應(yīng)力有：
1）熱應(yīng)力（如溫度）；
2）電應(yīng)力（如電壓、電流、功率）；
3）濕應(yīng)力（如濕度）；
4）化學(xué)環(huán)境（如氣體濃度、鹽度）；
5）機械應(yīng)力（如振動、摩擦、壓力、載荷、頻率）；
6）輻射。
截尾壽命
定義：一種將投試驗品試驗到部分失效就停止，并且通過已知的失效數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析推導(dǎo)出完整壽命分布的實驗方法。
分類：定時截尾壽命試驗 & 定數(shù)截尾壽命試驗
意義：縮短試驗時間